更新時(shí)間: 2021-08-16 點(diǎn)擊次數(shù): 1846次
環(huán)境模擬試驗(yàn)箱可對各種材料進(jìn)行高低溫恒溫漸變、爆裂、耐熱、耐寒、耐干、耐濕等可靠性試驗(yàn),模擬恒溫恒濕環(huán)境。恒溫恒濕箱用于測試樣品在高溫高濕、低溫低濕、高低溫循環(huán)、恒定高低溫環(huán)境下的適應(yīng)性,從而確定產(chǎn)品的質(zhì)量。
本產(chǎn)品適用于電子、電工、電器、通訊、光纖、LCD、led、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)、儀器、車輛、塑料制品、金屬、食品、化工、建材等的耐高溫、低溫、耐濕循環(huán)試驗(yàn),醫(yī)療、航空和其他產(chǎn)品。
環(huán)境模擬試驗(yàn)箱可用來做哪些試驗(yàn)項(xiàng)目呢?
1、低壓(高空)試驗(yàn)
本試驗(yàn)適用于飛機(jī)貨艙內(nèi)空運(yùn)武旗、高原上使用的武旗以及飛機(jī)受傷后的空中武旗的快速壓降。試驗(yàn)的目的是測試武旗在低壓環(huán)境下的使用性能以及快速壓降對武旗性能的影響。模擬高度可達(dá)30000m(m),試驗(yàn)時(shí)取該高度對應(yīng)的溫度值。
2、高溫試驗(yàn)
在試驗(yàn)過程中,武旗處于高溫空氣中,但沒有直接暴露在陽光下。該試驗(yàn)旨在高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間或靠近熱源(如發(fā)動機(jī))的地方儲存或使用武旗。僅當(dāng)太陽輻射試驗(yàn)無法驗(yàn)證高溫效應(yīng)時(shí),才應(yīng)進(jìn)行該試驗(yàn)。本試驗(yàn)的目的是測試在高溫環(huán)境下儲存或使用的性能。
3、低溫試驗(yàn)
本試驗(yàn)適用于壽命周期內(nèi)可能在低溫環(huán)境下使用的試件。試驗(yàn)的目的是測試試樣是否能夠在長期低溫環(huán)境中儲存、操作、控制和操作。
4、太陽輻射(日照)試驗(yàn)
這是一項(xiàng)關(guān)于暴露在陽光下的武旗及其制造材料的實(shí)驗(yàn)。太陽輻射會引起光化學(xué)和熱效應(yīng)。在大多數(shù)情況下,該試驗(yàn)可替代高溫試驗(yàn)。太陽輻射對武旗或相關(guān)材料的使用或露天儲存的影響可通過日照試驗(yàn)進(jìn)行測試。
5、淋雨試驗(yàn)
環(huán)境模擬試驗(yàn)箱還可做淋雨試驗(yàn),它可以用來測試在使用過程中可能會淋雨的武旗。雨水測試包括無風(fēng)時(shí)的雨水測試和有風(fēng)時(shí)的雨水測試。雨水測試的目的是測試防雨設(shè)備的防水性能以及雨中和雨后武旗的性能。